Базис реализации сбоеустойчивых электронных схем

И.А. Соколов, Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, Ю.В. Рождественский, А.Н. Каменских. Базис реализации сбоеустойчивых электронных схем // Информатика и ее применения, – М.: ТОРУС ПРЕСС, Т. 15, № 4, 2021 –…

Система характеризации самосинхронных элементов (САХИБ). Версия 4

Государственная регистрация программы для ЭВМ № 2021668787 от 19.11.2021 Бюл. №11. Система характеризации самосинхронных элементов (САХИБ). Версия 4. Морозов Николай Викторович, Дьяченко Юрий Георгиевич, Степченков Дмитрий Юрьевич, Рождественскене Аста Винценто;…

Повышение сбоеустойчивости самосинхронного троичного умножителя

Дьяченко Ю.Г., Степченков Ю.А., Рождественский Ю.В., Морозов Н.В., Степченков Д.Ю., Рождественскене А.В. Повышение сбоеустойчивости самосинхронного троичного умножителя // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2021. Выпуск 2. С.…

Сравнение сбоеустойчивых синхронных и самосинхронных схем

 А.А. Зацаринный, Ю.А. Степченков, Ю.Г. Дьяченко, Ю.В. Рождественский. Сравнение сбоеустойчивых синхронных и самосинхронных схем // Математическое моделирование в материаловедении электронных компонентов. ММMЭК–2021. 25–27 октября 2021 г., Москва: Материалы III Международной…

Реализация синтеза самосинхронных схем в базисе БМК

Плеханов Л. П., Денисов А. Н., Дьяченко Ю.Г., Мамонов Д.И., Морозов Н.В., Степченков Д.Ю. Реализация синтеза самосинхронных схем в базисе БМК // Российский форум «Микроэлектроника – 2021». 7-я Научная конференция…

Self-Timed Storage Register Soft Error Tolerance Improvement

Yury Stepchenkov, Yury Diachenko, Yury Rogdestvenski, Yury Shikunov, Denis Diachenko. Self-Timed Storage Register Soft Error Tolerance Improvement // Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2021),  Batumi, Georgia, September,…

Повышение сбоеустойчивости самосинхронных схем

И. А. Соколов, Ю. А. Степченков, Ю. Г. Дьяченко, Ю. В. Рождественский. Повышение сбоеустойчивости самосинхронных схем // Информатика и ее применения, – М.: ТОРУС ПРЕСС, Т. 14, № 4, 2020…