Петрухин В.С., Степченков Ю.А., Морозов Н.В., Степченков Д.Ю. Система тестирования самосинхронных микросхем // Системы и средства информатики, М.: Наука, вып. 16, 2006. – С. 486-495.

Аннотация: Рассмотрены основные проблемы сопряжения контрольно- измерительного оборудования с самосинхронными микросхема ми. Для проведения тестирования и сравнительных испытаний синхронного и самосинхронного образцов микросхем в лабораторных условиях рассмотрена структура аппаратных и программных средств системы автоматизированного тестирования опытных кристаллов (САТОК). Детально представлен интерфейс взаимодействия пользователя с системой тестирования.

От Dmitry

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *