Устойчивость самосинхронного конвейера к логическим сбоям в комбинационной части

Степченков Ю. А., Дьяченко Ю. Г., Рождественский Ю. В., Морозов Н. В., Степченков Д. Ю., Дьяченко Д. Ю. Устойчивость самосинхронного конвейера к логическим сбоям в комбинационной части // Системы и средства информатики, 2020. Т. 30. № 3. С. 49-55.

DOI: 10.14357/08696527200305. Индексируется в РИНЦ, ВАК, RSCI.

Аннотация: Оценивается вероятность повреждения данных в самосинхрон- ных (СС) схемах, изготовленных по КМДП-технологии с проектными нормами 65 нм и ниже, из-за кратковременных логических сбоев (ЛС) в комбинационной части ступени СС-конвейера, вызванных внешними и внутренними факторами. Выявлены ситуации, способные привести к порче данных в конвейере из-за ЛС. Определен уровень естественной защищенности СС-кон- вейера от ЛС в его комбинационной части благодаря свойствам СС-схем (84,4% в наихудшем случае). Предложенные приемы топологического синтеза повышают сбоеустойчивость СС-конвейера до 85,6% от всех ЛС. Индикация состояния парафазного сигнала, инверсного по отношению к его спейсеру, как спейсера обеспечивает иммунность СС-конвейера к 98,6% одиночных ЛС за счет увеличения его аппаратных затрат всего на 1%.

Abstract: The paper estimates the data corruption probability in self-timed circuits manufactured by a standard 65-nanometer and below CMOS process because of short-term soft errors that occurred in the pipeline combinational part. Soft errors appear as a result of the external causes and internal noise sources. The paper analyzes events able to lead to data corruption in the pipeline due to soft errors. In the worth case, self-timed pipeline is naturally immune to 84.4% soft errors in its combinational part due to self-timed circuit features.
Proposed layout synthesis techniques increase soft error tolerance of the pipeline up to 85.6%. Indication of the state of the paraphase signal, inversed to its spacer, as spacer provides self-timed pipeline immunity to 98.6% of single soft errors at the expanse of pipeline hardware complexity by less than 1 %.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *