Петрухин В.С., Степченков Ю.А., Морозов Н.В., Степченков Д.Ю. САТОК — система тестирования самосинхронных микросхем // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем — 2006. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2006. С. 265-268.
Petrukhin V.S., Stepchenkov Yu.A., Morozov N.V., Stepchenkov D.Yu. SATOK — System for Self-Timed Integrated Circuits Testing // Problems of Perspective Microelectronic Systems Development — 2006. Proceedings / edited by A. Stempkovsky, Moscow, IPPM RAS, 2006. P. 265-268.
Аннотация: В работе рассмотрены основные проблемы сопряжения контрольно-измерительного оборудования с самосинхронными микросхемами. Для проведения тестирования и сравнительных испытаний синхронного и самосинхронного образцов микросхем в условиях лаборатории рассмотрена структура аппаратных и программных средств системы САТОК. Детально представлен интерфейс взаимодействия пользователя с системой тестирования.
Abstract: The main problems of coupling controlling and measuring apparatus with self-timed circuits are considered. The structure of hardware-software testing system SATOK is presented. This system is used for comparative testing of synchronous and self-timed implementations of the functionally identical circuits. Detailed description of user interface for such testing is presented also.
Dmitry