Failure-tolerant synchronous and self-timed circuits comparison.

A.A. Zatsarinny, Yu. A. Stepchenkov, Yu. G. Diachenko, Yu. V. Rogdestvenski. Failure-tolerant synchronous and self-timed circuits comparison. RUSSIAN MICROELECTRONICS» (№ 8, 2022).

Индексируется в Scopus, Вак. Принята в печать.

Финансовая поддержка: Исследование выполнено в рамках государственного задания № 0063-2019-0010. / Funding Agency: The study was carried out within the framework of state assignment No. 0063-2019-0010.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *