A.A. Zatsarinny, Yu. A. Stepchenkov, Yu. G. Diachenko, Yu. V. Rogdestvenski, L.P. Plekhanov. Failure-tolerant self-timed circuits // Russian Microelectronics, 2023, Vol. 52, No. 8. © Pleiades Publishing, Ltd., 2023.

Indexed in Scopus, ВАК, Ринц. Принята к печати.

Финансовая поддержка: Исследование выполнено в рамках государственного задания № 0063-2019-0010. / Funding Agency: The study was carried out within the framework of state assignment No. 0063-2019-0010.

От Dmitry