Степченков Ю. А., Дьяченко Ю. Г., Морозов Н. В., Степченков Д. Ю., Дьяченко Д.Ю. Характеризация последовательностных самосинхронных элементов // Системы и средства информатики, 2019. Т. 29. № 3. С. 104-113.
DOI:10.14357/08696527190309. Индексируется в РИНЦ, ВАК, RSCI.
Аннотация: Специфика функционирования самосинхронных (СС) схем предъявляет особые требования к процедуре их характеризации. Процедура должна учитывать дисциплину формирования информационных и фазовых сигналов на основе задаваемых пользователем атрибутов входов и выходов характеризуемого элемента. Предложена методика уточнения процесса характеризации для последовательностных CC-элементов, основанная на использовании векторов определения статических значений или направлений переключения входов и выходов. Алгоритмизация и реализация предложенного подхода в новой версии системы автоматизированной характеризации интегральных библиотек (САХИБ) повысили ее эффективность и обеспечили достоверную характеризацию всех типов последовательностных элементов из библиотеки СС-элементов для 65-нанометровой КМОП (комплеменарный металл-оксид-полупроводник) технологии. Автоматическое дополнение в процессе характеризации моделей последовательностных элементов конструкциями анализа порядка изменения сигналов на их входах и предупреждения о некорректной последовательности входов облегчает и ускоряет проектирование CC цифровых схем.
Abstract: Functional specificity of the self-timed circuits makes special requirements to their characterization procedure. This procedure should take into account a signal conditioning discipline for information and phase signals on base of user defined attributes of the characterized cell’s inputs and outputs. The paper describes a technique of adjusting characterization process for sequential self-timed cells. It is based on using vectors that set static values and transition direction for all inputs and outputs. Algorithmization and implementation of the suggested approach in new SAHIB characterization system version have increased its efficiency and provided the valid characterization of all sequential cell types in the self-timed cell library for 65-nanometer standard CMOS (complementary metal-oxide-semiconductor) process. Automatic introduction of the Verilog constructions analyzing change order of all cell inputs and notifying their invalid sequence into the sequential cell models during characterization procedure accelerates and mitigates self-timed circuit design.
Dmitry