Модели отказоустойчивых самосинхронных схем

Степченков Ю. А., Каменских А. Н., Тюрин С. Ф., Рождественский Ю. В. Модели отказоустойчивых самосинхронных схем // Системы и средства информатики, 2016.  Т. 26.  № 4.  С. 19-30.

DOI: 10.14357/08696527160402. Индексируется в РИНЦ, ВАК, RSCI.

Аннотация: Разработка аппаратуры для цифровых вычислительных систем, отличающейся как высокой надежностью, так и энергоэффективностью, является одной из важнейших задач XXI в. Использование самосинхронных (CC) схем позволяет повысить их энергоэффективность. Однако увеличение аппаратных затрат при CC-исполнении обычной, неотказоустойчивой аппаратуры приводит к снижению ее надежности. Cамосинхронное исполнение отказоустойчивой аппаратуры позволяет повысить не только ее надежность, но и улучшить комплексный показатель «энергозатраты-надежность». Дальнейшее развитие методов обеспечения отказоустойчивости CC-схем с учетом их специфики позволит компенсировать их недостатки, такие как сложность проектирования, за счет значительно лучших комплексных показателей эффективности. В статье разрабатываются модели и алгоритмы обнаружения неисправностей для методов обеспечения активной отказоустойчивости, что позволяет повысить достоверность функционирования (ДФ) и коэффициент готовности.

Abstract: The development of both the reliable and the energy-efficient computing systems is one of most important tasks in the XXI century. The usage of self-timed circuits makes it possible to improve energy-efficiency of a computing system. However, the complexity increase in not fault-tolerant self-timed circuits leads to decrease of reliability. The fault-tolerant self-timed implementation of digital devices makes it possible to increase not only reliability but also the complex index «energy-consumption/reliability.» The further development of synthesis methods of fault-tolerant self-timed circuits will allow to compensate the negative effects of self-timed circuit’s development by the positive effect of complex index increasing. The paper describes the models and algorithms of fault detection which are developed to improve validity and reliability of actively fault-tolerant self-timed circuits.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *